株式会社スペクトラ・コープ

分光分析の可能性を広げる、スペクトラ・コープはCarl Zeiss社製分光器の日本代理店です。

紫外可視近赤外対象の光散乱特性評価分光装置 LOT-4AXIS-UVNIR

ついに開発しました!紫外可視近赤外対象の光散乱特性評価分光装置「LOT-4AXIS-UVNIR」 従来測定が困難とされてました紫外可視近赤外波長域のBSDF測定を行えます。

装置概要

測定動画


BRDF測定


BTDF測定


製品仕様

対象波長 280nm~980nm (分光装置単体:190nm~980nm)
波長分解能 2.4nm (typ)
波長精度 0.3nm以下
S/N比 1000:1
校正波長範囲 200nm~800nm(キセノン) 380nm~980nm(ハロゲン)
回転ステージ稼働範囲 反射
β軸 出射部:0°~180°
β軸 受光部:0°~±90°
θ軸 受光部:0°~±90°
θ軸 サンプル設置部:0°~±90°

透過
β軸 出射部:0°~180°
β軸 受光部:180°~+90°,-90.1°
θ軸 受光部:0°~±90°
θ軸 サンプル設置部:測定時において各ステージが干渉しない角度範囲
回転ステージ精度 0.1°(位置決め精度) 0.008°(繰り返し精度)
測定サンプルサイズ 5cm x 5cm
入射スポットサイズ φ2mm~φ10mmの中から選択
受光径 φ11.3mm固定
実測値→計算算出値 光度・放射輝度→輝度・放射輝度
装置外形及び重量(参考値) 約W1500×D1500×H1850 (mm)、350kg以下

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