紫外可視近赤外対象の光散乱特性評価分光装置 LOT-4AXIS-UVNIR
ついに開発しました！紫外可視近赤外対象の光散乱特性評価分光装置「LOT-4AXIS-UVNIR」
従来測定が困難とされていました紫外可視近赤外波長域のBSDF測定を行えます。
装置概要
- θ軸2軸・β軸2軸の自動ステージによりサンプルの反射及び透過の測定
- BSDF測定（BRDF測定とBTDF測定）
測定動画
BRDF測定
BTDF測定
製品仕様
| 対象波長 | 280nm～980nm (分光装置単体：190nm～980nm) |
|---|---|
| 波長分解能 | 2.4nm (typ) |
| 波長精度 | 0.3nm以下 |
| S/N比 | 10000：1 |
| 校正波長範囲 | 200nm～800nm(キセノン) 380nm～980nm(ハロゲン) |
| 回転ステージ稼働範囲 |
反射 β軸 出射部：0°～180° β軸 受光部：0°～±90° θ軸 受光部：0°～±90° θ軸 サンプル設置部：0°～±90° 透過 β軸 出射部：0°～180° β軸 受光部：180°～+90°,-90.1° θ軸 受光部：0°～±90° θ軸 サンプル設置部：測定時において各ステージが干渉しない角度範囲 |
| 回転ステージ精度 | 0.1°(位置決め精度) 0.008°(繰り返し精度) |
| 測定サンプルサイズ | 5cm x 5cm |
| 入射スポットサイズ | φ2mm～φ10mmの中から選択 |
| 受光径 | φ11.3mm固定 |
| 実測値→計算算出値 | 光度・放射輝度→輝度・放射輝度 |
| 装置外形及び重量(参考値) | 約W1500×D1500×H1850 (mm)、350kg以下 |